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型 號(hào):53100A |
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價(jià) 格:面議 |
Microchip 53100A相位噪聲分析儀 概述 53100A相位噪聲分析儀可以測(cè)量高性能RF信號(hào)源的幅度、相位和頻率穩(wěn)定性。測(cè)試頻率范圍為1MHz到200MHz。53100A可以告訴您關(guān)于您被測(cè)設(shè)備的任何穩(wěn)定性特性,時(shí)間刻度范圍可以從飛秒到天。無(wú)論是單獨(dú)使用還是集成到自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中,小巧的外形和業(yè)界領(lǐng)先的測(cè)量速度使得51300A可以適用于大多數(shù)應(yīng)用。 繼承并擴(kuò)展了3120A和51XXA系列儀器的優(yōu)點(diǎn),53100A可以以更低的成本來(lái)快速精確地測(cè)量SSB單邊帶相位噪聲和ADEV阿倫反差。得益于改進(jìn)地設(shè)計(jì)和制造工藝進(jìn)步,53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。 特點(diǎn) 信號(hào)輸入和參考輸入,頻率范圍1MHz到200MHz 沒(méi)有相位鎖定和不需要測(cè)量校準(zhǔn) 單或雙參考振蕩器輸入允許互相關(guān)測(cè)量 TSC 51XXA命令和數(shù)據(jù)流仿真功能減少了重寫(xiě)現(xiàn)有測(cè)試腳本的負(fù)擔(dān) 直觀的圖形界面使用戶能夠快速開(kāi)始測(cè)量 測(cè)量 亞皮秒精度相位和頻率差的實(shí)時(shí)帶狀圖 絕對(duì)頻率計(jì)數(shù)精度每秒鐘13位以上,高17位 ADEV典型值<5E-14(1秒) 可以測(cè)量MDEV、HDEV、TDEV 相位噪聲和幅度噪聲偏移范圍為0.001Hz到1MHz,水平典型小于-175dBc/Hz(10MHz載波) 時(shí)間抖動(dòng)、殘余FM調(diào)頻和SSB載波/噪聲比率 在Windows系統(tǒng)上使用高性能的基于電腦的DSP技術(shù),所有這些測(cè)量都可以同時(shí)進(jìn)行。您可以查看、保存、比較、打印和導(dǎo)出各種格式數(shù)據(jù),包括TSC 51XXA兼容的。測(cè)量精度取決于用戶提供的外部參考源,參考源頻率為1MHz到200MHz,儀器本身不需要校準(zhǔn)。 規(guī)格(25℃環(huán)境),除非備注其他溫度 性能 頻率范圍 | 1到200MHz | ADEV | <7E-14 (1秒) <5E-16(1000秒) |
相位噪聲規(guī)格 偏移頻率范圍:0.001Hz到1MHz 系統(tǒng)噪聲平面 偏移 | 5MHz載波 | 100MHz載波 | 1Hz | -135 | -120 | 10Hz | -145 | -130 | 100Hz | -155 | -145 | 1kHz | -165 | -160 | 10kHz | -170 | -170 | >100kHz | -170 | -170 | Spurious (5到100MHz) | -100 | -100 |
電氣特性 輸入信號(hào)電平:-5到+15dBm 輸入阻抗:50歐姆
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